芯片单体ESD测试方法？
一：
测试方法：
（1）放电模式：
空气放电（AirDischarge）和接触放电（ContactDischarge）。
a.每点打十次；
b.每次放电后立刻以接地线将电荷导走；
c.测试电压：
±5KV、±8KV和±15KV三种电压。
（2）手机工作模式：
待机模式（Standby）和通话模式（InCall）。
（3）测试电压：
A.空气放电（AirDischarge）需要测试±5KV、±8KV和±15KV三种电压。
B.接触放电（ContactDischarge）需要测试±3KV、±4KV和±8KV三种电压。
芯片检测是什么意思？
芯片测试
设计初期系统级芯片测试。
SoC的基础是深亚微米工艺，因此，对Soc器件的测试需要采用全新的方法。
由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。
为SoC设备所做的逐块测试规划必须实现：
正确配置用于逻辑测试的ATPG工具；测试时间短；新型高速故障模型以及多种内存或小型阵列测试。
